Оборудование

  • Паяльно-ремонтный центр IR 550A plus

    Современный паяльно-ремонтный центр с программируемым термопрофилем для инфракрасной пайки и демонтажа, а также контактной пайки и демонтажа (интегрирована станция Digital2000A в комплекте с паяльником TechTool, термопинцет и термоотсос доступны как опции). Полное антистатическое исполнение. Мощные (по 800 Вт) ИК-излучатели, помпа вакуумного захвата, верхний вентилятор.

  • Инфракрасная паяльная станция ИК-650ПРО

    Универсальная цифровая ИК-станция ИК-650ПРО предназначена для профессионального ремонта сложных печатных плат в которых требуется использовать BGA пайку. Широкий выбор термостолов позволяет использовать ИК станцию не только для пайки BGA, но и для восстановления шариков BGA микросхемм.

  • Тестер смартфонов Rohde&Schwarz CTS 55

    CTS 55 применяется для всестороннего измерения характеристик приёмо-передающего тракта сотовых телефонов стандарта GSM и поддерживает четыре типа тестирования: ускоренный тест, автоматический тест, ручной тест, асинхронный режим.

  • Осциллограф Tektronix DPO2014

    Осциллограф с цифровым люминофором (DPO) серии DPO2000 обладает всеми необходимыми средствами для отображения сигналов и быстрой локализации проблем. Первый осциллограф с длиной записи 1 млн. точек по всем каналам, функцией запуска и декодирования сигалов последовательных шин, перестраиваемым фильтром нижних частот, позволяющим увидеть мельчайшие подробности сигнала в полной полосе осциллографа.

  • Паяльная станция PАСЕ SODR-TEK ST 325

    Станция для конвекционной пайки. Предназначена для монтажа и демонтажа SMD-компонентов, в особенности тех, выводы которых расположены под корпусом (BGA, MLF, LGA и LCC). На ее лицевой панели расположены регуляторы температуры и скорости потока воздуха. Выключатель нагревателя и компрессора находится на инструменте. Компрессор имеет малый уровень шума.

  • Цифровой мультиметр Fluke 175

    Fluke 175 измеряет постоянные и переменные токи и напряжения, сопротивление (проводимость), используется при прозвонке электрических цепей и дополнительно — для тестирования диодов и измерения емкостей и частот. Компактный. Измерение эффективных (среднеквадратических) величин. Запись минимального, максимального, среднего и текущего значения измеряемого параметра.

  • Стереоскопический микроскоп МСП-1 вар. 3

    икроскоп предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения (ZOOM-система). Оптическая система микроскопа может свободно перемещаться в горизонтальном и вертикальном направлении, а также можно регулировать угол наклона, что позволяет получить большое пространство для разнообразных операций (пайка, препарирование и др.).